Б. Исследование микрошлифов под микроскопом

Полированный шлиф металла в нейтральном виде под микроскопом имеет вид светлого круга. Только неметаллические включения (графит, оксиды, сульфиты и др.) видны без травления. Выявление структуры сплавов под микроскопом основано на различном состоянии поверхности той или иной структуры, и количество отраженных лучей от этих поверхностей будет разное. Глубоко протравленные участки дают больше рассеянных лучей и выглядят более темными (рис.8.4).

Рис. 8.4. Схема отражения световых лучей микрошлифом.

Например, при небольшом увеличении микроструктура стали, состоящая из феррита и перлита, будет иметь вид темных (перлит) и светлых (феррит) зерен, т.к. участки перлита, представляющие собой двухфазную структуру, протравливаются сильнее, чем зерна феррита. Для микроскопического исследования структуры металлов в работе используется вертикальный металлографический микроскоп МИМ – 6. (рис. 8.6).

Под разрешающей способностью микроскопа понимают его способность отчетливо давать раздельные изображения двух близких друг к другу точек рассматриваемого предмета. Основными узлами металлографического микроскопа являются оптическая, осветительная и механическая системы.

Оптическая система состоит из объектива, окуляра, призм, зеркал и диафрагм. Увеличение микроскопа определяется произведением увеличения объектива на увеличение окуляра.

Осветительная система состоит из источника света, линзы, светофильтров и осветителя иллюминатора. Лучи света проходят через иллюминатор, серию линз, диафрагм и плоско параллельную пластинку, которая направляет их через объектив на поверхность микрошлифа. От поверхности микрошлифа лучи отражаются, проходя через пластинку, и с помощью поверхностной призмы направляются в окуляр для визуального наблюдения, а при фотографировании поворотная призма выводится из системы, и лучи попадают в проекционный окуляр фотокамеры.

Механическая система состоит из следующих частей: нижнего корпуса 1, собственно микроскопа с визуальным и иллюминаторным трубами: предметного столика 2, окуляра 3, механизма наводки на фокус (макрометрический механизм 4 и микрометрический винт 5), осветительного устройства 6, закрепленного на кронштейне.

Исследуемый шлиф помещают на предметный столик 2 микроскопа полированной поверхностью вниз. Грубая наводка (фокусировка) объектива на четкое изображение производится путем поднимания или опускания предметного столика посредством винта 4. Добившись четкого изображения, предметный столик закрепляют винтом 6 и производят точную наводку на фокус вращением микрометрического винта 5.